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portada cmos sram circuit design and parametric test in nano-scaled technologies: process-aware sram design and test
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2010
Idioma
Inglés
N° páginas
194
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
23.4 x 15.6 x 1.1 cm
Peso
0.30 kg.
ISBN
904817855x
ISBN13
9789048178551

cmos sram circuit design and parametric test in nano-scaled technologies: process-aware sram design and test

Andrei Pavlov (Autor) · Manoj Sachdev (Autor) · Springer · Tapa Blanda

cmos sram circuit design and parametric test in nano-scaled technologies: process-aware sram design and test - Pavlov, Andrei ; Sachdev, Manoj

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